利用红外光穿透物质时的吸收、反射、散射等效应实现非接触 式测量薄膜类材料的厚度 特定波长(780~2500nm)的近红外光会被材料分子中的C-H键 或H-O键选择性吸收,且吸收量与材料中含C-H键或H-O键 的分子数成正比。近红外面密度仪/水分仪便是利用这一原理, 通过光电探测器探测透过材料或照射到材料表面的近红外光被吸收量的多少,来推算出含H-O键或C-H键的材料面密度或 水分含量近红外测厚仪具有无辐射危害、测量稳定性高、应用简便等特点。