近红外涂层测厚技术落地卷材涂布产线 实现无辐射非接触在线膜厚管控

该技术既可以检测烘干后成品涂层，也可对湿膜涂层进行预判，提前发现涂布头、烘箱带来的工艺偏差，减少厚薄不均造成的废料。对比射线类测厚，近红外方案省去辐射防护、定期检定等配套工作，适合涂布、薄膜、锂电、包装胶带等大批量连续生产场景。

X 射线测厚技术赋能 PI 膜生产 实现非接触高精度在线厚度管控

PI聚酰亚胺薄膜凭借耐高低温、高绝缘、高机械强度等优异性能，广泛应用于柔性电路板、芯片封装、显示、动力电池等关键领域，**厚度精度直接决定成品绝缘性能与使用可靠性**，微米级偏差就会造成器件性能下降、成品报废。传统离线抽样检测存在滞后性，很难实时捕捉高速产线上的局部厚薄波动，接触式测量还容易对超薄 PI 膜造成压伤、划痕，制约高端电子级 PI 膜良率提升。

花费十几万买在线瑕疵检测仪，最后只能检测严重缺陷，轻微缺陷老是漏检？

看得见色彩，才抓得住“隐形”缺陷